新標(biāo)準(zhǔn)新儀器
靜電測(cè)量與常用儀表與ESD試驗(yàn)設(shè)備: 新目錄 以前目錄
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靜電標(biāo)準(zhǔn)
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EST883C CDM靜電放電模擬器新版CDM測(cè)試 EST883C 靜電放電仿真器CDM Tester 高精度1%和穩(wěn)定性0.1% (電子元器件CDM靜電放電敏感度試驗(yàn)) 試驗(yàn)電壓寬(0~±2000V)、精度高0.5%、分辨率高(1V)、穩(wěn)定性好(時(shí)漂小于0.1%) 符合新ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014標(biāo)準(zhǔn), 北京華晶匯科技有限公司研制 北京億艾迪科技有限公司生產(chǎn) 1、概述過(guò)去大家對(duì)人體模型(HBM)和機(jī)器模型(MM)相當(dāng)重視,而忽視了帶電器件模型(CDM)對(duì)器件造成的損壞。近年的研究證明,在自動(dòng)化程度越來(lái)越高,器件本身帶電所造成的損壞遠(yuǎn)多于HBM和MM。IC等器件本身由于接觸分離及摩擦如從管內(nèi)倒出帶電,在接觸或處理器件如由機(jī)器手或人取出時(shí)會(huì)時(shí)器件會(huì)發(fā)生放電,在流水在線常見(jiàn)的ESD就是典型的CDM靜電放電。CDM與HBM和MM無(wú)論在試驗(yàn)原理方法和程序上都有很大的不同,HBM和MM都是由于IC外部的靜電放電造成IC等器件損壞,通過(guò)對(duì)人員和設(shè)備接地就能控制HBM和MM的發(fā)生,而CDM是器件對(duì)其他物體放電所造成的損壞,從模型的基本理論、測(cè)試原理,試驗(yàn)方法,測(cè)試設(shè)備都完全不同于HBM和MM,而且不可能通過(guò)接地來(lái)控制CDM, 因而CDM成了近年來(lái)電子器件損壞嚴(yán)重、發(fā)生概率大的事件。
二、技術(shù)指標(biāo) 2. 技術(shù)指標(biāo) (符合并優(yōu)于 新ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014的標(biāo)準(zhǔn):0-1000V)1.試驗(yàn)電壓:±1V~±1999V (連續(xù)可調(diào))可從前面板調(diào)節(jié)顯示值 2.電壓顯示: LED,分辨率:±1V 3.試驗(yàn)電壓準(zhǔn)確度:±0.5% ±2字 4.試驗(yàn)電壓穩(wěn)定性:0.1%(小時(shí),預(yù)熱30分鐘以后) 5. 電流波形記錄接口,傳輸線特性阻抗50Ω,可接數(shù)字存儲(chǔ)示波器。 6. 電場(chǎng)感應(yīng)板:75*75mm 7 放電頭移動(dòng)距離:0~10mm 8. 可更換的放電針 9.世界通用電源電壓:AC85V~265V/40~65Hz 10.功耗:約3W, 重量:約3kg 3. 贈(zèng)送附件1. CDM校準(zhǔn)模塊 大、小各一個(gè), 符合新ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014標(biāo)準(zhǔn),替代Replacement of ANSI/ESD S5.3.1-2009 & JEDEC JESD22-C101F 2 衰減器:20dB/6GHz, 3. 50歐姆電纜線(Cable)1米 4. 放電探針(PIN): 不少于4個(gè) 5. 探針支架
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